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Nuevo ICP

Microlab Industrial cuenta con un Detector de diseño especifico con tecnología de mapeo de imágenes (ICP) que permite llevar a cabo el análisis simultaneo de muestras a nivel trazas o de alta concentración eliminando así posibles interferencias entre análisis.

El equipo es un detector de metales de Espectroscopia de Emisión Atómica en Plasma Acoplado Inductivamente (ICP – AES) por vista axial. Éste permite detectar trazas de múltiples elementos a la vez reduciendo significativamente el tiempo de análisis, permitiendo generar resultados con mayor rapidez.

La tecnología de plasma ahorra la necesidad de lámparas que requieren reemplazarse continuamente y el procedimiento posterior de prueba que consume un tiempo considerable. Además, el control completo del aparato desde el flujo de gas en la PC permite que puedan correrse y almacenarse automáticamente diversas rutinas de análisis, lo que aumenta la eficiencia y reduce los márgenes de error.

Control de flujo de gases automático desde la PC

El instrumento posee tecnología de mapeo de imágenes y cubre todo el rango de longitud de onda para lectura (167 – 785 nm) y es capaz de eliminar una cantidad considerable de interferencias entre los metales analizados. El tiempo requerido para iluminar el detector de carga acoplado (CCD) es de aproximadamente 0,8 s, haciendo al detector de los más rápidos del mercado.